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GK-ECBS-F8分立器件綜合老化試驗(yàn)系統(tǒng)
適用于各種封裝（包括表面貼裝）形式的中、小功率二極管、三極管、場(chǎng)效應(yīng)管、可控硅、集成穩(wěn)壓器、光電耦合器、電阻等元器件的穩(wěn)態(tài)壽命試驗(yàn)（CFOL）和間歇壽命試驗(yàn)（IFOL）和功率老煉篩選。
技術(shù)特點(diǎn)：
①一板一區(qū)，可滿足16種不同試驗(yàn)參數(shù)的器件同時(shí)老化。
②被試器件DUT老化電源采用智能程控方式供給，極性自動(dòng)轉(zhuǎn)換；
③數(shù)據(jù)庫(kù)加載導(dǎo)入，自動(dòng)完成試驗(yàn)過程，方便操作使用。
④完善、標(biāo)準(zhǔn)的老化器件庫(kù)及各種老化板，解決了用戶的后顧之憂。
heating
高溫加熱
內(nèi)部加熱 保持不壞
真金不怕火煉，超強(qiáng)耐高溫
超級(jí)耐高溫
保持高品質(zhì)
內(nèi)部加熱原理
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