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Semiconductor discrete device 半导体分立器件试验设备 Passive component test equipment 被动元件试验设备 Monitoring system 设备集中监视系统 Internet of things platform 物联网平台 test equipment 试验设备
半导体分立器件试验设备
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钽电容器高温老化系统
适用于各种封装形式的钽电容器、电解电容器、独石电容器、云母电容器、陶瓷电容器、纸介电容器、薄膜电容器和金属化纸介电容器（包括SMT表面贴装）等器件的工作寿命试验和高温老炼筛选。
LED高温老化系统
系统能满足各种封装形式（包括SMD表面贴装）的78XX、79XX、117、137、200等系列固定、可调三端稳压器老化筛选和寿命试验。
热阻测试系统
适用各种封装外形的二极管、三极管、整流桥、SCR、MOSFET、IGBT的K系数测试和热阻测试。
分立器件综合老化试验系统
适用于各种封装（包括表面贴装）形式的中、小功率二极管、三极管、场效应管、可控硅、集成稳压器、光电耦合器、电阻等元器件的稳态寿命试验（CFOL）和间歇寿命试验（IFOL）和功率老炼筛选。
电容脉冲放电测试系统
可适用于各种外形的车用二极管进行电容放电脉冲冲击试验。
服务热线
0571-8585 6333
联系邮箱：gk@hzgkdz.com
公司地址:浙江省杭州市余杭区闲林工业园裕丰路7号

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