en
产品中心
Product Center
Semiconductor discrete device 半导体分立器件试验设备 Passive component test equipment 被动元件试验设备 Monitoring system 设备集中监视系统 Internet of things platform 物联网平台 test equipment 试验设备
半导体分立器件试验设备
内容建设中......
产品中心
Product Center
高加速温湿度应力试验系统
系统能满足各种封装形式的Si/SiC/GaN 材料的 IGBT/ DIODE/MOSFET/HEMT/BJT/SCR 等器件的HAST试验。
存储器高温动态老化测试系统
系统适用于各种封装形式的SRAM，DRAM，SDRAM ，FLASH，DDR，RDRAM等器件进行高温动态老化筛选，并且在老化过程中对被试验器件(DUT)进行功能测试(TDBI)。
三端稳压器老化系统
系统能满足各种封装形式（包括SMD表面贴装）的78XX、79XX、117、137、200等系列固定、可调三端稳压器老化筛选和寿命试验。
稳压管 SSOP 试验系统
系统适用于各种封装的稳压管（Zener）进行稳态运行功率（SSOP）试验。
大功率晶体管老化系统
适用于F型、TO-3P/TO220、G型封装的大功率三极管、MOS管等进行功率老化试验。
电源模块高温老化试验系统
适用于各种中小功率单路、多路正负输出的DC/DC、AC/DC电源模块进行高温恒流老化试验。
服务热线
0571-8585 6333
联系邮箱：gk@hzgkdz.com
公司地址:浙江省杭州市余杭区闲林工业园裕丰路7号

Copyright © 2023 杭州高坤电子科技有限公司 浙ICP备14010471号-1 浙公网安备 888883020888号